Patent, Faydalı Model ve Entegre Devre Topoğrafyası – Habip Asan, Ayben Işılay Özdoğan – Lykeion Yayınları

Ana Sayfaya Dön
Patent, Faydalı Model ve Entegre Devre Topoğrafyası – Habip Asan, Ayben Işılay Özdoğan – Lykeion Yayınları kitap kapağı
Patent, Faydalı Model ve Entegre Devre Topoğrafyası – Habip Asan, Ayben Işılay Özdoğan – Lykeion Yayınları kitap kapağı
%3 İNDİRİM

Patent, Faydalı Model ve Entegre Devre Topoğrafyası

Lykeion Yayınları

Yazar: Habip Asan, Ayben Işılay Özdoğan

Yaklaşık 1-3 iş gününde temin

Barkod:9786057422330
ISBN:9786057422330
Sayfa Sayısı:209 Sayfa
Ürün Ebatı:16x24 cm
Dil:Türkçe
Cilt Durumu:Ciltsiz
Kağıt Tipi:1. Hamur
Basım Tarihi:11/2021
Yazar:Habip Asan, Ayben Işılay Özdoğan
21Görüntülenme

Bu kitapta 621 Nobel Puan kazanın

Sepet tutarı 1000 ₺ ve üzeri
siparişlerinizde kargo ücretsiz!

Kitap Hakkında

Sınai Mülkiyet Hakları Uygulamaları Serisinin bu kitabı; ekonomik kalkınmanın en önemli göstergelerinden olan patent, faydalı model ve entegre devre topoğrafyası ile ilgilidir. Bu alanlarda yapılacak başvurularda, güçlü bir koruma elde edilebilmesi için iyi bir strateji oluşturulmalı ve başvuru öncesinde detaylı çalışmalar yapılmalıdır.

Kitapta, başvurular için gerekli ön bilgilerden ve başvuru süreçlerinden bahsedilmiştir. Aynı zamanda, salt patent hukukunu içeren kitaplardan farklı olarak pratikte yararlanılabilecek bilgiler de verilmiş ve hâlihazırda var olan başvurulardan örnekler sunulmuştur. Ayrıca kitapta, uluslararası ofis uygulamaları ve mahkeme kararlarını içeren bilimsel örneklere de yer verilmiştir. Bu alanda çalışan, kariyer hedefleyen veya konuya ilgi duyan herkesin yararlanabileceği bir kaynak oluşturulmuştur.

Benzer ürünler

Bu kitaba yakın başlık ve konularda öne çıkanlar; kategori ve yayınevine göre de sıralanır — keşfetmeniz için seçildi.

Kategorideki tüm kitaplar
641.00
621.77
1