Patent, Faydalı Model ve Entegre Devre Topoğrafyası – Habip Asan, Ayben Işılay Özdoğan – Lykeion Yayınları
Patent, Faydalı Model ve Entegre Devre Topoğrafyası
Yazar: Habip Asan, Ayben Işılay Özdoğan
Yaklaşık 1-3 iş gününde temin
Bu kitapta 621 Nobel Puan kazanın
Sepet tutarı 1000 ₺ ve üzeri
siparişlerinizde kargo ücretsiz!
Kitap Hakkında
Sınai Mülkiyet Hakları Uygulamaları Serisinin bu kitabı; ekonomik kalkınmanın en önemli göstergelerinden olan patent, faydalı model ve entegre devre topoğrafyası ile ilgilidir. Bu alanlarda yapılacak başvurularda, güçlü bir koruma elde edilebilmesi için iyi bir strateji oluşturulmalı ve başvuru öncesinde detaylı çalışmalar yapılmalıdır.
Kitapta, başvurular için gerekli ön bilgilerden ve başvuru süreçlerinden bahsedilmiştir. Aynı zamanda, salt patent hukukunu içeren kitaplardan farklı olarak pratikte yararlanılabilecek bilgiler de verilmiş ve hâlihazırda var olan başvurulardan örnekler sunulmuştur. Ayrıca kitapta, uluslararası ofis uygulamaları ve mahkeme kararlarını içeren bilimsel örneklere de yer verilmiştir. Bu alanda çalışan, kariyer hedefleyen veya konuya ilgi duyan herkesin yararlanabileceği bir kaynak oluşturulmuştur.
Benzer ürünler
Bu kitaba yakın başlık ve konularda öne çıkanlar; kategori ve yayınevine göre de sıralanır — keşfetmeniz için seçildi.

